ANÁLISIS DE METALES



Metales ferrosos, no ferrosos y ensayos destructivos









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Espectrómetros Portátiles y Estacionarios



OES, XRF, AAS, ICP-OES



Compact Port HLC



Espectrómetro Portátil



  • Espectrómetro híbrido con detectores digitales (CCD) y fotomultiplicadores (PMT)
  • Análisis de carbono, fósforo y azufre con pistola de argón
  • Opcional: análisis de nitró-geno



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Vario Lab



Espectrómetro de Emisión Óptica



  • Espectrómetro de alta sen-sibilidad y bajos límites de detección
  • Multi-base
  • Calibración automática dia-ria
  • Opcional: pistola de análisis ideal para muestras volu-minosas

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In-Spect



Espectrómetro de Óptica Dual



  • Espectrómetro de doble óptica y bajos límites de detección
  • Diseño compacto con ex-celente precisión
  • Opcional: pistola de análisis ideal para muestras volu-minosas

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Explorer



Espectrómetro Portátil XRF



  • Análisis no destructivo de aleaciones metálicas
  • Identificación positiva de material (PMI)
  • Rango de análisis de 1 ppm a 99.99%
  • Resultados comparables con los de laboratorio
  • No requiere preparación de la muestra

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SparkCCD 6000/ 7000



Espectrómetro de Emisión Óptica



  • Detección de Fe, Al, Cu, Ni, Co, Mg, Ti, Zn, Pb, Sn, Ag y sus aleaciones, incluye C, P, S y N
  • Fuente de chispa de estado sólido ajustable
  • Rejilla de difracción: 2700 ranuras/mm
  • Rango de longitud de onda: de 130 a 800 nm (depende del programa analítico y del modelo)

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SpectroLab S



Espectrómetro de Emisión Óptica



  • Robusto y versátil para una amplia gama de bases metálicas
  • Multielemental según cua-dro analítico
  • Sistema multi-óptico
  • Óptica en atmósfera de argón purificado en circuito cerrado
  • Sistema de control del espectrómetro comandado por PC

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Spectro Arcos



Espectrómetro ICP - OES



  • Espectrómetro de emisión óptica con fuente de excitación inductivamente acoplada
  • Análisis de líquidos
  • Resultados cuantitativos y semicuantitativos
  • Detección: semiconductores Rango espectral: 130 a 190 nm



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Kreis - M - OES 1000



Espectrómetro ICP - OES



  • ¡No requiere argón!
  • Fuente de plasma a base de nitrógeno acoplado induc-tivamente por microondas
  • Sistema de alto rendimiento para determinación de trazas de metales
  • Detectores CMOS
  • No requiere sistema de re-frigeración por agua o aire
  • Compacto y ligero (31 kg) de alta precisión

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Analizadores Elementales



Carbono – Azufre - Hidrógeno – Nitrógeno - Oxígeno



ONH-p2 / ON-p2 /OH-p2



Analizador de Oxígeno, Nitrógeno e Hidrógeno*



  • Análisis de muestras inorgánicas
  • Horno vertical de impulsos superior a 3,000 °C
  • Detección de oxígeno me-diante celda de medición IR no dispersa
  • Celda de conductividad tér-mica para nitrógeno e hidrógeno
  • Cargador automático de muestras, opcional

*Dependiendo del modelo


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CS-i



Analizador de Azufre y Carbono



  • Análisis de muestras inorgánicas
  • Horno de resistencia ho-rizontal con tubo cerámico ajustable u horno de in-ducción vertical superior a 2,000 °C
  • De 1 a 4 celdas infrarrojas, en oro o aluminio
  • Cargador automático de muestras, opcional

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CS-d



Analizador de Azufre y Carbono



  • Análisis de muestras orgánicas e inorgánicas
  • Con doble horno:
    • Horizontal de resistencia con tubo cerámico ajustable
    • Vertical de inducción superior a 2,000 °C
  • De 1 a 4 celdas infrarrojas, en oro o aluminio
  • Cargador automático de muestras, opcional

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H-500



Analizador de Residuos de Hidrógeno



  • Horno de resistencia ver-tical con tubo de cuarzo, ajustable hasta 1,000 °C
  • Detección con celda de conductividad térmica
  • Mediciones precisas, incluso para bajas concentraciones

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Otros Analizadores



Dióxido de Carbono, Agua y Carbono Superficial



CW - 800



Analizador de Dióxido de Carbono y Agua



  • Horno de resistencia ho-rizontal con tubo de cuarzo, ajustable hasta 1,000 °C con cambios de 1 °C
  • De 1 a 2 celdas infrarrojas, en oro.
  • Método de detección: ab-sorción infrarroja en estado sólido
  • Sistema de control elec-trónico para el flujo de nitrógeno puro



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Surface C - 800



Analizador de Carbono Superficial



  • Análisis de muestras inorgánicas
  • Horno de resistencia ho-rizontal con tubo de cuarzo, ajustable hasta 1,000 °C con cambios de 1 °C
  • De 1 a 2 celdas infrarrojas en oro o aluminio.
  • Método de detección: ab-sorción infrarroja en estado sólido
  • Sistema de control elec-trónico para el flujo de oxígeno puro



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Durómetros para Macro/Microdureza



Vickers - Brinell - Knoop - Rockwell



Microdurómetros



Durómetro + Microscopio



  • Rango de fuerza de 0,25 gf, a 62,5 kgf*
  • Operación manual o semi/automática*
  • Para pruebas Vickers, Knoop, Brinell, Rockwell*
  • Torreta de 8 posiciones
  • Evaluación automática de la imagen
  • Análisis micro estructural
  • Tecnología para prevención de colisiones

*Dependiendo del modelo


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Durómetros Rockwell



Semi/Automático y Manual



  • Rango de fuerza de 1 kg a 250 kg
  • Para pruebas Vickers, Brinell, Rockwell y plásticos*
  • Sistema de medición de profundidad directa
  • Estructura robusta de acero soldado con iluminación LED
  • Satisface las normas DIN EN ISO 6508 y ASTM E-18


*Dependiendo del modelo


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Durómetros Universales



Brinell, Knoop, Vickers y Rockwell



  • Rango de fuerza de 0,3 kg a 3000 kg*
  • Operación manual o semi/automática*
  • Permite análisis de pruebas en plásticos y en carbón
  • Máxima claridad y contraste en la imagen
  • Altura máx. de ensayo 510 mm (mayor a solicitud)
  • Satisface las normas DIN EN ISO 18265 y ASTM E140

*Dependiendo del modelo


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Durómetro Portátil



Brinell



  • Unidad de evaluación de imágenes móvil para pruebas en campo
  • Evaluación de imágenes mediante microscopio in-corporado y óptica XLED
  • Satisface las normas DIN EN ISO 6506 y ASTM E-10
  • Incluye tablet con software de fácil manejo

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Microscopios Metalográficos



Binoculares y Trinoculares con Opción de Software Analizador de Imágenes



Microscopio Digital



De Campo Brillante



  • Iluminación incidente y transmitida
  • Cabeza binocular o trinocular con opción para cámara.
  • Técnicas de campo brillante (brightfield) y campo oscuro (darkfield)
  • Motorizado

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Estereomicroscopio



De Luz Polarizada y Campo Claro



  • Lecturas digitales electró-nicas
  • Cabeza binocular o trinocular con opción para cámara
  • Inspección visual y medi-ción sencilla
  • Indicadores Mitutoyo Digi-matic

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Microscopio Invertido



Trinocular



  • Con cabeza trinocular Sie-dentopf
  • Diseño compacto y ergonó-mico
  • Objetos planacromáticos con corrección para imáge-nes nítidas y sin distorsio-nes.

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Software



Analizador de Imagen



  • Gestión de imágenes digita-les con análisis de imágenes / medición mejorada
  • Análisis del tamaño de las partículas
  • Asistente "wizard" para aná-lisis especiales

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Software de Análisis de Pruebas de Dureza



Adecuado para Análisis de Objetos de Cualquier Forma



QPIX T2


Para Modelos con Pantalla Táctil


  • Presenta resultados de forma clara y precisa
  • Capacidad multitáctil de fácil operación
  • Predefinición de programas de pruebas. También se puede hacer de forma manual
  • Exportación de datos en DOCX, XML o CSV

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QPIX CONTROL2



Para Modelos Controlados por PC



  • Control en el cabezal de pruebas para creación de estándares
  • Gestión de plantillas estruc-turadas
  • Herramientas para muestras de soldaduras
  • Cálculo predictivo de pun-tos de prueba

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QPIX CONTROL2 M/R


Para Modelos Semiautomáticos


  • Permite la creación de plantillas para gestión de datos del análisis
  • Permite gestionar varios proyectos de prueba
  • Resultados de medición bien organizados

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QAI



Operación y Análisis con IA



  • Reconocimiento automático y precisa de las indenta-ciones
  • No se ve afectado por los contratos bajos y superficies difíciles

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